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产品详情
近场光度测量 ，建立光线模型
更方便、准确的进行照明产品的二次光学设计和研发
● 适用于LED封装、光学透镜、镜头等近场光度测量，用于二次光学设计；
● 成像亮度计采用TE制冷，保证其稳定性；
● 可搭载光度计和光谱辐射计，测量空间分布颜色等参数。
近场分布光度计采用基于二维CCD的成像亮度计作为探测原件。如图所示成像亮度计绕被测光源（如LED）旋转，测量记录光源在各个方向上的亮度分布，即光源上各发光点在各方向上的光通量，进而建立待测光源的实际光线分布模型，该模型可以输入光学设计软件中用于灯具的配光设计和照明现场设计。
传统分布光度计测量光源在远距离下的光分布，然而，当发光体距离被照工作面较近时，其光分布于远场光分布可能存在很大差异。如图所示，由多颗具有一定光束角的LED组成的LED灯具在近场的各个距离下光分布存在很大差别
近场分布光度计可为被测样品建立起真实的光线模型，可为光学设计提供更为详尽的数据。
◆ 基本工作原理
近场分布光度计系统包括：双轴自动转台、调节机构、成像亮度计部件、光度探头、控制及测试软件。双轴自动转台能够带动成像亮度测量装置绕光源转动及光源自身转动，并通过调节机构调节光源的精确位置以及角度的精确定位实现对光源近场空间任意位置的测量。整个系统由计算机和测控软件控制，自动完成各项测试任务。
◆ 技术指标
● 水平轴（γ轴）转动范围为：-118°~+118°
● 竖直轴（C轴）转动范围为：0°~360°
● 转动角度精度为：0.1°
● 被测光源发光面尺寸：0.5mm-30mm（特殊可定制）
● 成像亮度计的亮度准确度等级：一级
◆ 技术文件格式
光线输出格式：Tracepro等
◆ 测试界面
测试光线界面显示图
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